- Главная
- Разное
- Дизайн
- Бизнес и предпринимательство
- Аналитика
- Образование
- Развлечения
- Красота и здоровье
- Финансы
- Государство
- Путешествия
- Спорт
- Недвижимость
- Армия
- Графика
- Культурология
- Еда и кулинария
- Лингвистика
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Маркетинг
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Оже-электронная спектроскопия презентация
Содержание
- 1. Оже-электронная спектроскопия
- 2. Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества
- 3. Метод выделения полезного сигнала
- 4. Энергоанализатор типа “цилиндрическое зеркало”
- 5. КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ Выражение, связывающее ток Ii оже-электронов,
- 6. Метод эталонов Для реализации метода эталонов необходим
- 7. Метод, учитывающий факторы элементной чувствительности Относительная атомная
- 8. Спектр оже-электронов от поверхности нержавеющей стали В
- 9. Преимущества: очень малая глубина анализа (обычно не
- 10. ПРИМЕНЕНИЕ ОЭС Традиционные области применения ОЭС –
- 11. Спасибо за внимание!
Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества по энергетическим спектрам электронов, возникающих в результате оже-эффекта, проявляющегося при облучения образца высокоэнергетическими пучками.
Слайд 2Электронная Оже-спектроскопия — метод анализа строения вещества по энергетическим спектрам электронов,
возникающих в результате оже-эффекта, проявляющегося при облучения образца высокоэнергетическими пучками.
Слайд 5КОЛИЧЕСТВЕННАЯ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ
Выражение, связывающее ток Ii оже-электронов, эмитируемых твердым телом под углом
θ к его поверхности, и концентрацию атомов в твердом теле Ni (i – индекс элемента):
Ii = const ⋅ IP ⋅ Gi ⋅ Ni ⋅ σi ⋅ (1 − ωi) ⋅ Ri ⋅ λi ⋅ sec θ
Ii = const ⋅ IP ⋅ Gi ⋅ Ni ⋅ σi ⋅ (1 − ωi) ⋅ Ri ⋅ λi ⋅ sec θ
Слайд 6Метод эталонов
Для реализации метода эталонов необходим контрольный образец с идентичной матрицей
и известной концентрацией атомов исследуемого элемента.
Концентрация атомов в твердом теле
Концентрация атомов в твердом теле
Слайд 7Метод, учитывающий факторы элементной чувствительности
Относительная атомная концентрация Сх (выраженная в долях
единицы) для атомов любого сорта:
Слайд 8Спектр оже-электронов от поверхности нержавеющей стали
В результате расчета получены следующие концентрации
компонентов в относительных единицах: Fe 0,68(0,702), Ni 0,09(0,093), Сr 0,22(0,205).
Слайд 9Преимущества:
очень малая глубина анализа (обычно не превышает 2–3 нм);
высокая чувствительность при
проведении элементного анализа приповерхностной области толщиной 5–20 Å;
возможность обнаружения всех элементов, следующих за гелием в таблице Менделеева.
возможность обнаружения всех элементов, следующих за гелием в таблице Менделеева.
Слайд 10ПРИМЕНЕНИЕ ОЭС
Традиционные области применения ОЭС – изучение процессов адсорбции и десорбции
на поверхностях твердых тел, коррозии, контроль за чистотой поверхности в различных технологических процессах.
