Электронная микроскопия биологических объектов презентация

Содержание

80% информации об окружающем мире человек получает при помощи зрения

Слайд 1Электронная микроскопия
биологических объектов


Слайд 2


Слайд 380% информации об окружающем мире
человек получает при помощи зрения


Слайд 4
Почему электронный микроскоп?
Разрешение оптического микроскопа
где λ – длина волны, n

– показатель преломления среды, α – максимальный угол

Электроны проявляют свойства электромагнитных волн.


Слайд 5Эрнст Руска (Германия)
Нобелевская премия по физике 1986 г. за изобретение

электронного микроскопа

Слайд 6Электронный микроскоп Э.Руски (1933 г.)


Слайд 7Что можно узнать об объекте при помощи электронного микроскопа?
Топография – как

объект “выглядит” (текстура)
Морфология – размеры, форма частиц, составляющих объект
Состав – химические элементы и вещества в составе объекта, их относительное содержание
Кристаллографическая информация – взаимное расположение атомов в объекте.

Слайд 8Современный электронный микроскоп


Слайд 9

Как работает электронный микроскоп?


Слайд 10
А. Пушки с термоэлектронной эмиссией

Катод на основе вольфрамовой нити накаливания

или кристалла гексаборида лантана (последний обладает большей яркостью, меньшей площадью эмиссии и меньший энергетический разброс электронов).

Б. Пушки с полевой эмиссией (холодной или термополевой)

Катод имеет очень тонкое острие (около 0.1 мкм), на котором из-за кривизны поверхности возникает сильное электрическое поле, стимулирующее эмиссию электронов.






Источники электронов (электронные пушки)


Слайд 11Источники электронов (электронные пушки)

Ускоряющее напряжение обычно составляет
40-400 кЭв


Слайд 12
Благодаря заряду, электроны отклоняются от прямолиненой траектории в электромагнитном поле под

действием силы Лоренца.

Электромагнитные линзы


Слайд 13
Благодаря заряду, электроны отклоняются от прямолиненой траектории в электромагнитном поле под

действием силы Лоренца.

Электромагнитные линзы


Слайд 14
Разрешающая способность микроскопа


Слайд 15

λ10кЭв = 12.3 * 10-12 м
λ 200кЭв = 2.5 * 10-12

м

d = 0.65 (Cs λ 3)1/4 ~ 8 * 10-11 м

Разрешающая способность микроскопа


Слайд 16Взаимодействие электронов с веществом




Слайд 17
Взаимодействие электронов с веществом







Оже 1-3 нм
Вторичные е- 10 нм
Рассеяные е- 1мкм
5

мкм

Глубина проникновения электронов

При ускоряющем напряжении 20 кВ


Слайд 18

Взаимодействие электронов с веществом


Слайд 19Зачем электронному микроскопу нужен вакуум?
Исключить рассеяние электронов в результате столновения с

молекулами газа
Исключить образование разряда между катодом и анодом
Исключить повреждение катода
Предотвратить оседание молекул газа на образце под действием электронного пучка

В стандартных микроскопах поддерживается вакуум 10-4 Ра, для высоковольтных требуется более высокий вакуум – до 10-7 – 10-9 Ра

Многоступенчатая вакуумная система: ротационные насосы предварительной откачки и диффузионный насос.


Слайд 20Формирование контраста в электронной микроскопии
1. В режиме светлого поля контраст формируется

в результате поглощения электронов образцом
2. Диффракционный контраст в результате упорядоченного рассеяния электронов на кристаллических структурах
3. Спектроскопия потерь энергий электронов позволяет отфильтровать электроны заданной энергии

Слайд 21Взаимодействие электронов с веществом




Слайд 22(1) при взаимодействии с электронами внутренних оболочек:
а) эти электроны выбиваются (вторичные

электроны)
б) падающие высокоэнергичные электроны отражаются (отраженные электроны)
в) электроны с внешних оболочек перехдят на освободившиеся внутренние с излучением гамма-квантов характеристической энергии.



Слайд 23






(2) при взаимодействии с ядром атома:
а) отклонение от прямолинейной траектории без

потери скорости (упругое рассеяние)
б) потеря энергии и эмиссия гамма-квантов разной длины волны.


Слайд 24(3) при взаимодействии с электронами внешних оболочек:
а) выбивание (или внедрение) электронов

с образованием свободных радикалов
б) взаимодействие последних с соседними атомами приводит к значительным изменениям структуры образца, особенно легких атомов. Из-за подобного радиационного повреждения образца наблюдение живых объектов невозможно
в) следует минимизировать время взаимодействия образца с пучком электронов, увеличить ускоряющее напряжение и вести наблюдение при низкой температуре (-160oC)


Слайд 25(4) при отсутствии взаимодействия прошедшие через образец электроны используются для формирования

изображения при помощи
а) люминесцентного экрана
б) фотопленки
в) CCD-камеры


Слайд 26
Энергетическая фильтрация электронов

Потеря энергии (эВ)




Потеря энергии (эВ)
Потеря энергии (эВ)
Плазмонный резонанс
Пик нулевых

потерь


Слайд 27Энергетическая фильтрация электронов


Слайд 28

Энергетическая фильтрация электронов


Слайд 29















Сканирующий электронный микроскоп


Слайд 30Для наблюдения в стандартном сканирующем микроскопе образцы должны быть электропроводными (по

крайней мере на поверхности) и заземленными. Электропроводность достигается напылением образцов тонким слоем металла (золото) или импрегнацией металлами (напр. Os).

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Что такое ThePresentation.ru?

Это сайт презентаций, докладов, проектов, шаблонов в формате PowerPoint. Мы помогаем школьникам, студентам, учителям, преподавателям хранить и обмениваться учебными материалами с другими пользователями.


Для правообладателей

Яндекс.Метрика