на вопросы
- Главная
- Разное
- Дизайн
- Бизнес и предпринимательство
- Аналитика
- Образование
- Развлечения
- Красота и здоровье
- Финансы
- Государство
- Путешествия
- Спорт
- Недвижимость
- Армия
- Графика
- Культурология
- Еда и кулинария
- Лингвистика
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Маркетинг
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Микро и нано электроника. Просвечивающая электронная микроскопия. Автоэлектронная и автоионная микроскопия. Зондовая микроскопия презентация
Содержание
- 1. Микро и нано электроника. Просвечивающая электронная микроскопия. Автоэлектронная и автоионная микроскопия. Зондовая микроскопия
- 10. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 11. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 12. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 13. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 14. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 15. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 16. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 17. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 18. 8 1 2 3 4 5 6 7
- 19. В электронных микроскопах используются: 1 - Лучи света 2 - Пучки электронов Вопрос № 1
- 20. Какая микроскопия основывается на явлениях эмиссии электронов
- 21. Детектирование чего лежит в основе сканирующего оптического
- 22. При сканирующей электронной микроскопии… 1 – исследуются
- 23. У сканирующего туннельного микроскопа в качестве зонда
- 24. Сканирующая туннельная микроскопия может исследовать… 1
- 25. Атомно-силовая микроскопия может исследовать… Только проводящие образцы
- 26. При сканирующей оптической микроскопии ближнего поля зондом
- 27. Ответ правильный
- 28. Ответ неправильный
- 29. Всего вопросов Подведение итогов
8 1 2 3 4 5 6 7
Слайд 1Просвечивающая электронная микроскопия
Автоэлектронная и автоионная микроскопия
Зондовая микроскопия
Микро и нано электроника
Необходимо ответить
Слайд 20Какая микроскопия основывается на явлениях эмиссии электронов с поверхности металла под
воздействием сильных электрических полей?
1 - Ионно-полевая
2- Электронно-полевая
Вопрос № 2
Слайд 21Детектирование чего лежит в основе сканирующего оптического микроскопа ближнего поля?
1 -
Электромагнитное излучение
2 – Ток вторичных и отраженных электронов
Вопрос № 3
Слайд 22При сканирующей электронной микроскопии…
1 – исследуются только тонкие пленки
2 – толщина
образца не имеет значения
Вопрос № 4
Слайд 23У сканирующего туннельного микроскопа в качестве зонда выступает…
1 – металлическая игла
2
- образец
Вопрос № 5
Слайд 24Сканирующая туннельная микроскопия может исследовать…
1 – проводящие образцы
2 – любые
образцы
Вопрос № 6
Слайд 25Атомно-силовая микроскопия может исследовать…
Только проводящие образцы
Только непроводящие образцы
Любые образцы
Вопрос № 7
Только
металлы
Слайд 26При сканирующей оптической микроскопии ближнего поля зондом выступает…
Тонкая металлическая игла
Оптоволокно
Образец
Оптический волновод
Вопрос
№ 8
