Слайд 1Моделирование в среде TCAD
Семинар 3
Слайд 2Моделирование технологических процессов в Sentaurus Process
Диффузия.
Окисление.
Слайд 3Моделирование процесса диффузии
Диффузия – физический процесс, обуславливающий миграцию атомов легирующих
примесей в кристаллической решетке кремния.
Диффузия приобретает направленное движение под влиянием либо градиента концентрации, либо градиента температуры
(в микроэлектронном производстве градиенты температуры в подложке – отрицательное явление и не используется на практике)
Слайд 4Основное уравнение для процесса диффузии (Sentaurus Process)
- поток диффундирующих
частиц,
с – зарядовое состояние,
d – коэффициент диффузии,
A – концентрация примеси типа а,
n – концентрация электронов
Слайд 5
Уравнение непрерывности для примеси типа a в зарядовом состоянии c
- вклад генерации – рекомбинации, связанный с моделью переноса,
- вклад генерации – рекомбинации, связанный с процессом кластеризации
Слайд 6Модели диффузии
Модели переноса позволяют рассчитать поток частиц примеси и являются основой
моделирования диффузии в программе Sentaurus Process.
В дополнение к расчету потоков частиц могут быть учтены возможные реакции взаимодействия частиц в процессе диффузии в зависимости от выбранного типа модели.
Модели переноса обычно используются с одной или несколькими моделями кластеризации или активации. Реакции взаимодействия или модели кластеризации не модифицируют поток частиц, а добавляют в уравнении непрерывности слагаемые к
Слайд 7Модель диффузии ChargedReact
Модель диффузии ChargedReact – наиболее полная модель переноса в
программе Sentaurus Process.
Модель включает неподвижную примесь в замещающем состоянии и до двух подвижных заряженных пар примесь-дефект.
Также в рассмотрение включены подвижные заряженные точечные дефекты.
Слайд 8Реакции в модели диффузии ChargedReact
A – замещающие атомы примеси
I – междоузлия
V
- вакансии
Слайд 9Дифференциальные уравнения в модели ChargedReact
CA – концентрация замещающих атомов примеси
CI –
концентрация междоузлий
CV – концентрация вакансий
CAX- концентрация пар дефект-примесь (I или V)
Слайд 10Модель ChargedReact : уравнение для заряженных пар
Предполагается, что реакция образования пар
дефект-примесь является равновесной:
где X это I или V, z – заряд примеси A
- Скорость реакции образования пар AX
Слайд 11Поток пар:
Потокт дефектов:
Скорости для всех комбинаций зарядовых состояний:
Слайд 12Типы моделей
ChargedReact Diffusion Model
React Diffusion Model
ChargedPair Diffusion Model
Pair Diffusion Model
ChargedFermi Diffusion
Model
Fermi Diffusion Model
Constant Diffusion Model
NeutralReact Diffusion Model
Слайд 13Пары дефект – примесь, участвующие в диффузии основных типов примеси
Вклад
пар в диффузию можно учесть при определении эффективного коэффициента диффузии по принципу суперпозиции, умножая каждую составляющую на весовой коэффициент
Слайд 14Кинетический метод Монте-Карло для расчета процесса диффузии (KMC)
Слайд 15Кинетический метод Монте-Карло рассчитывает траектории индивидуальных примесей и точечных дефектов и
взаимодействие между ними.
Метод позволяет изучать процесс диффузии на микроскопическом уровне.
Результаты моделирования с помощью КМС могут быть использованы для калибровки моделей, основанных на решении уравнений диффузии.
Слайд 16Преимущества метода Монте-Карло
Уменьшение термического бюджета в современных технологических маршрутах сокращает продолжительность
диффузионых процессов, преобладают термодинамически неравновесные процессы и состояния.
Слайд 17При обычном подходе к моделированию число решаемых уравнений быстро возрастает с
учетом всех возможных пар дефект – примесь, переходов и состояний.
С другой стороны, уменьшение размеров приборов приводит к малому количеству атомов примеси, формирующих структуру прибора (десятки или сотни). Приближается предел, когда такие малые дискретизованные распределения уже не могут быть аппроксимированы непрерывными функциями.
Слайд 18Повышение конкурентноспособности метода Монте-Карло
С уменьшением размеров трудоемкость метода Монте-Карло снижается, т.к.
уменьшается число атомов и дефектов, вовлеченных в процесс.
Большое количество различных конфигураций дефект – примесь не усложняет метод, т.к. требует только введения значений вероятностей для дополнительных реакций.
Трудоемкость обычного метода моделирования систем уравнений возрастает из-за неравновесных процессов
Слайд 19Основные характеристики KMC
Моделируются только дефекты и атомы в «дефектных» состояниях. Атомы
решетки кремния не моделируются.
Слайд 20Основные характеристики KMC
Входные параметры – энергии миграции, связи, эмиссии и др.
По
ним рассчитывается вероятность (частота) того или иного события.
Частицы могут также взаимодействовать с протяженными дефектами или двигаться вдоль них.
Слайд 21Основные характеристики KMC
КМС (на базе программы DADOS) может работать в 2-х
режимах:
Атомистическом (наиболее точный)
Неатомистическом, с использованием модуля KMC для отдельных операций, прежде всего неравновесных процессов (RTA и др.)
Слайд 22Атомистический режим
Распределения всех величин рассчитываются полностью на основе расчета траекторий отдельных
атомов
Основные ограничения данного режима:
Осаждение слоев возможно только без учета примеси;
Имплантация должна моделироваться только с помощью Sentaurus MC
Окисление не моделируется.
Слайд 23КМС использует ортогональную сетку и разбиение моделируемой области на прямоугольные поддомены.
Слайд 24Используемые материалы
Кремний (монокристаллический)
Аморфный кремний
Диоксид кремния
Поликристаллический кремний
Нитрид кремния
Газ (внешняя среда)
Слайд 26Точечные дефекты могут взаимодействовать с соседними частицами и перемещаться на расстояние
λ в ортогональных направлениях
Слайд 27Атомы акцепторной или донорной примеси могут диффундировать в паре с дефектом
(вакансией или междоузлием)
Пара дефект – примесь может
диффундировать
распадаться на атом примеси в замещаюшем состоянии (заряженный, неподвижный) и точечный дефект
Слайд 28Энергетическая диаграмма для эстафетного механизма диффузии
Слайд 29Не все возможные сочетания частиц участвуют в реакциях.
Возможные реакции включают физически
обоснованные типы взаимодействий.
Рассматриваются только обратимые реакции, реакции со стабильными выходными продуктами.
Например, допустимые реакции для бора:
Слайд 30Области аккумуляции дефектов
Аморфные зоны
Слайд 31Протяженные дефекты
{311} дефекты
Кольца дислокаций
Пустоты (вакансионные кластеры)
Слайд 32{311}
Прямоугольные полосы из междоузлий, расположенные в плоскости {311} в направлении
Слайд 33Кольца дислокаций
Тонкие круги в плоскости {111}
Слайд 34Вакансионные кластеры (пустоты)
Кластер из 654 вакансий (моделирование)
Слайд 35Кластеризация примеси
Кластеры мышьяк – вакансии (синий-мышьяк, зеленый-вакансия) →
Слайд 37Граница раздела между материалами
Слайд 38Моделирование диффузии в процессе окисления
На каждом шаге решается система уравнений для
расчета процесса окисления и механических напряжений
Перед запуском шага моделирования диффузии методом КМС трансформируется сетка.
Вновь выращенный окисел встраивается в тензорную сетку, используемую в КМС
Материал и свойства частиц изменяются там, где необходимо
Недостаток: несовершенство интерполяции при переходе от непрерывной сетки к тензорной
Слайд 39Пример: окисление при формировании затвора, КМОП - процесс 45 нм
Время окисления,
мин:
0.2, 0.4, 0.8,
1.6, 3.2, 6.4
Слайд 40Моделирование методом Монте-Карло имплантации P(30 КэВ, 1е14) и отжига (800 С,
15 мин.)
1 эксперимент
Усреднение по 20-ти экспериментам
Слайд 41Sentaurus Process
Kinetic Monte Carlo
Неоднородная тензорная сетка
Механические напряжения и SiGe
Дополнительные физические
модели
МОП-транзистор: моделирование с помощью Sentaurus Process KMC.
Слайд 42Полное описание см.
Sprocess
Гл. 5 Atomistic kinetic Monte Carlo diffusion
Слайд 43Окисление
Окислительный процесс включает три этапа:
Диффузия частиц окислителя (H2O, O2) от границы
раздела газ-окисел через существующий окисел к границе раздела кремний-окисел.
Химическая реакция между окислителем и кремнием с образованием нового окисла.
Перемещение материалов и границ раздела из-за расширения объема, вызванного образованием оксида.
Слайд 44Уравнения химических реакций:
Диффузия окислителя описывается законом Фика и уравнением непрерывности:
где D
– коэффициент диффузии окислителя, с – концентрация и j – поток частиц окислителя.
Поток окислителя, поступающий из внешней атмосферы в окисел по нормали к поверхности:
где h – коэффициент массопереноса и c* - концентрация окислителя в атмосфере
Слайд 45Модель Дила - Гроува
Скорость роста окисла в одномерном случае может быть
описана моделью Дила – Гроува :
где xox – толщина слоя окисла.
Уравнение может быть решено аналитически; параметры модели: константа параболического роста B и константа линейного роста B/A.
Более глубокий анализ показывает связь константы параболического роста с коэффициентом диффузии, а константы линейного роста со скоростью химической реакции.
Слайд 46Вывод модели Дила - Гроува
F1 = h(C*-C0) – массоперенос через внешнюю
границу окисла, C*, C0 – концентрации окисляющих частиц;
F2 = D(C0 – Ci)/x – диффузия окислителя через окисел к границе раздела окисел/кремний.
F3 = kCi – химическая реакция на границе раздела окисел/кремний.
В условиях равновесия F1 = F2 = F3
F2 = F3 : Ci = C0 /(1 + kx/D)
F1 = F3 : Ci = C*/(1 + k/h + kx/D)
dx/dt = F3 /N
Слайд 47
F1 = F2 = F3
Обозначаем:
Тогда:
После интегрирования
x2 +Ax =
B(t+t0)
Слайд 48
Модель Массуда
эмпирическая модель, учитывающая ускоренный рост окисла на начальном этапе
окисления
может рассматриваться как расширение модели Дила – Гроува; хорошо согласуется с экспериментом
параметры L и C зависят от кристаллографической ориентации и температуры
Слайд 49
В = ВО2 + ВН2О
ВО2 = FP∙RPO2∙pO2
ВH2О = FP∙RPH2O∙pH2O
Константы параболического и линейного роста зависят от давления и температуры
Слайд 502D и 3D окисление
Для точного моделирования необходимо проводить расчет следующих 2D
и 3D процессов:
Растворение окислительных реагентов на границе газ-окисел ,
Перенос частиц окислителя через существующий окисел,
Химическая реакция на границе окисел-кремний.
Растворение и химическая реакция моделируются как граничные условия;
Для моделирования переноса рассчитывается уравнение диффузии частич в слое окисла