Слайд 3Рівняння Максвелла
ρ — щільність стороннього електричного заряду (в СІ — Кл/м³);
j —
щільність електричного струму (струму провідності) (в СІ — А/м²);
c — швидкість светла в вакуумі (299 792 458 м/с);
E — напруженість електричного поля (в СІ — В/м);
H — напруженість магнітного поля (в СІ — А/м);
D — електрична індукція (в СІ — Кл/м²);
B — магнітна індукція (в СІ — Тл = Вб/м²);
— диференційний оператор набла, при цьому:
× — означає ротор вектора,
· — означає дівергенцію вектора.
Слайд 5Модель “ящика”
Зовнішні (Q)
Вхідні (X) Внутрішні (W)
Вихідні (Y)
Y=F(X,Q) – чорний ящик
Y=F(W,X,Q) – білий ящик
Y=F(W,X,Q, u) – білий ящик із невизначеністю
Слайд 10Параметри діоду
Максимально допустимі значення (не повинні бути перевищені):
URRM – максимальна повторювана
імпульсна зворотна напруга синусоїдальної форми на частоті 50 Гц;
URSM – неповторювана імпульсна зворотна напруга при певній температурі Tj (наприклад, від -60 оС до +75 оС); тривалість URSM короткочасна (десятки мкс), імпульси зумовлені грозовим розрядом, або перехідними процесами в зовнішній мережі;
IRRM – амплітудне значення повторюваного імпульсного зворотного струму при температурі структури (Tj = 175 оС) і зворотній напрузі UR = URRM ;
IFAV – максимально допустимий середній прямий струм за період при певному значенні температури корпусу приладу;
IFRMS – діюче значення прямого струму діоду;
IFSM – ударний неповторюваний прямий струм, що нагріває напівпровідникову структуру до температури вище допустимої;
– захисний показник: значення інтегралу від квадрату ударного струму діода за час його протікання tp . Для захисту СНП при короткому замиканні у навантаженні перетворювача, захисний показник запобіжника має бути нижче захисного показника приладу, який він захищає;
Tj – температура напівпровідникової структури, визначається експериментально, або шляхом виконання розрахунків по тепловим параметрам приладу і охолоджувача, та втратам потужності в приладі.
Електричні характеристики:
UFM – імпульсна пряма напруга, найбільше миттєве значення основної напруги на діоді, зумовлене імпульсним струмом;
UF0 – порогова пряма напруга, близька до контактної різниці потенціалів;
rF – динамічний опір у відкритому стані;
Q rr – заряд зворотного відновлення, витікає при перемиканні із заданого струму IF на задану зворотну напругу UR.
Слайд 15Можливості CAE і CAS
CAE (Computer Aided Engineering) системи дозволяють досліджувати
системи на макрорівні, тобто аналізувати та оптимізувати систему із ціллю прийняття рішення щодо топології (структурний підхід) та функціональних можливостей в цілому (системний підхід). На даний момент існує багато програм САЕ, які дозволяють моделювати ДС різної природи (біологічні, економічні, соціальні, технічні), причому деякі є вузькоспеціалізованими, а інші – більш універсальними:
Vensim, IThink, Dynamo, Stella, Powersim, MedModel, Arena, GPSS, Stratum, Scilab, Berkeley Madonna, NI MATRIXX, ACSLx, Modular Modeling System (MMS), Virtual Test Bed (VTB), JModelica.org, Yenka (Crocodile Technology), MATLAB\Simulink, Simscape, MapleSim, Dynast, Multisim, K2.SimKernel, Jigrein, EASY5, AMESim, Dymola, PSIM, SamSim, SimApp, SimulationX, Simplorer, VisSim, SystemModeler, 20-sim, ПК МВТУ
CAS (Computer Algebra System), які можуть розв’язувати диференціальні рівняння (чисельно чи у символічній формі):
Maple, MATLAB, Mathcad, Mathematica, Maxima, SymPy, O-Matrix, SciPy, Octave, NumPy, Python(x,y), MuPAD, Sage та інш.