Методы исследования нанообъектов и нанокомпозитов презентация

Содержание

Кривые распределения объёма (массы) частиц по размерам: 1 — монодисперсная система; 2 — полидисперсная система. δmin, δmax, δ0 — соответственно минимальный, максимальный и вероятнейший размер частиц; f(δ) — функция распределения, доля

Слайд 1Лекция 5
Методы исследования нанообъектов и нанокомпозитов

Слайд 2Кривые распределения объёма (массы) частиц по размерам: 1 — монодисперсная система;

2 — полидисперсная система. δmin, δmax, δ0 — соответственно минимальный, максимальный и вероятнейший размер частиц; f(δ) — функция распределения, доля объёма (или массы)

Слайд 3Монодисперсные – Полидисперсные – Мономодальное - Бимодальные – Полимодальные –

Слайд 4Примеры распределение частиц по размерам (РЧР) наномодификаторов
кремнезоль

Молотый глауконитовый песок

Слайд 5биокремнезем
двуокись титана

Слайд 6Бентонитовая глина

Слайд 7Методы оценки элементного состава:

Химические
Физические

Химические – превращения нановеществ в новые соединения, которые

могут быть оценены (например, титрование)

Физические – спектральные методы, Ик-спектроскопический анализ, масс-спектроскопия и т.д.

Метод оценки фазового состава:

Рентгенодифракционный анализ

Просвечивающая электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия
Сканирующая туннельная микроскопия
Атомно-силовая микроскопия

Слайд 8Методы оптической спектроскопии

Слайд 9Сравнение оптического и электронного микроскопов

Слайд 12Исходное изображение наноразмерных частиц жидкости (просвечивающая электронная микроскопия)
Анализируемая выборка наночастиц автоматически

разбивается на заданное пользователем количество классов по исследуемому параметру (в данном случае, эквивалентному диаметру)
Статистический анализ: гистограмма распределения наноразмерных частиц по эквивалентному диаметру

Слайд 13Схема растрового электронного микроскопа

Слайд 16 SEM микрофотография массива наночастиц SiO2; стрелками показаны изображения частиц, находящихся

в центрах кластеров частиц с размерами, формой и распределения интенсивности отличными от большинства частиц; на врезках: ‘а‘ типичное распределение интенсивности в изображении «необычной» частицы, ‘b‘ типичное распределением интенсивности в изображении обычных частиц.

Слайд 17Сканирующий туннельный микроскоп и атомно-силовой микроскоп
СТМ

АСМ

Слайд 18В 1981 г. Генрихом Рехрером и Джердом Карлом Биннигом из компании

IBM Corp. создан сканирующий туннельного микроскоп (СТМ). Нобелевская премия по физике 1986 года.
СТМ впервые позволил наблюдать отдельные атомы на поверхности образца.

Слайд 19Распределение атомов высокоориентированного графита , полученное СТМ

Слайд 20Полимерный материал, облученный лазером. Образец предоставлен Jan Siegel, PhD, Laser Processing

Group, Instituto de Optica – CSIC, Madrid, SPAIN.

Изображение отдельных атомов кремния – структура Si(111)-(7х7), полученное с помощью сверхвысоковакуумного сканирующего туннельного микроскопа фирмы Omicron.

Слайд 23Изобретен в 1986 году Гердом Биннигом и Кристофом Гербером

Слайд 24Схематическое изображение и электронная микрофотография типичного кантилевера с зондом
Схема системы детектирования

изгиба кантилевера оптической системой

Слайд 28Пленка ПС с ПММА. Размер скана: 2.5×2.5 мкм; Бесконтактный метод АСМ;

Образец предоставлен Dr. Easan Sivaniah, Texas Tech.

Углеродные нанотрубки на кремниевой подложке. Полуконтактный АСМ метод. Размер скана 1.4 x 1.4 мкм. Зонд fpN01S. Образец предоставлен компанией Nanodevice Technology (Москва, Зеленоград).

Слайд 29Перемещение частицы холестерина по поверхности мембранного фильтра
АСМ-изображение поверхности окисленного металла. Размер кадра

200×200 нм.

Слайд 30Квантовая гетероструктура GaAlAs: светлые вертикальные поверхности высотой ~15 нм представляют собой

оксид, созданный на поверхности GaAlAs анодным окислением с помощью атомно-силового микроскопа и образующий барьер для движения двумерного электронного газа.
Источник: Объект и его изображение получил Dr. Andreas Fuhrer (ETH, Z?rich, Switzerland), предоставлено http://www.icmm.csic.es/spmage/

Слайд 36Вопросы для закрепления
Принципиальное различие методов оптической и электронной микроскопии
Типы электронной микроскопии


Похожие презентации

Конструкція несучої системи вертольота 428
Сила трения. (7 класс) 721
Электролиз 838
Агрегаты наддува двигателей 326
Электрический ток в различных средах. Закономерность протекания тока 410
Спектр электромагнитных волн 605

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Что такое ThePresentation.ru?

Это сайт презентаций, докладов, проектов, шаблонов в формате PowerPoint. Мы помогаем школьникам, студентам, учителям, преподавателям хранить и обмениваться учебными материалами с другими пользователями.

Для правообладателей

Яндекс.Метрика