«Ракетно-космические композитные конструкции»
- Главная
- Разное
- Дизайн
- Бизнес и предпринимательство
- Аналитика
- Образование
- Развлечения
- Красота и здоровье
- Финансы
- Государство
- Путешествия
- Спорт
- Недвижимость
- Армия
- Графика
- Культурология
- Еда и кулинария
- Лингвистика
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Маркетинг
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Композиционные материалы на наноуровне презентация
Содержание
- 1. Композиционные материалы на наноуровне
- 2. Основные методы анализа состояния поверхностного слоя:
- 3. Растровая электронная микроскопия 3
- 4. 4 Растровая электронная микроскопия
- 5. 5 Растровая электронная микроскопия
- 6. 6 Растровая электронная микроскопия
- 7. 7 Растровая электронная микроскопия
- 8. 8 Растровая электронная микроскопия
- 9. 9 Растровая электронная микроскопия
- 10. 10 Растровая электронная микроскопия
- 11. 11 Растровая электронная микроскопия
- 12. Атомно-силовая микроскопия 12 Схема регистрации изгибов кантилевера
- 13. 13 Атомно-силовая микроскопия Область сканирования 10х10 мкм Область сканирования 5х5 мкм Стеклянное волокно Ortex
- 14. 14 Область сканирования 10х10 мкм Область сканирования 5х5 мкм Атомно-силовая микроскопия Стеклянное волокно РТ300-100
- 15. 15 Атомно-силовая микроскопия
- 16. 16 Атомно-силовая микроскопия Органическое волокно СВМ-7,5 Область сканирования 10х10 мкм Область сканирования 5х5 мкм
- 17. 17 Атомно-силовая микроскопия Область сканирования 10х10 мкм Область сканирования 5х5 мкм Органическое волокно Русар-5
- 18. Сферопластики 18
- 19. Фуллерены 19
- 20. Углеродные нанотрубки 20
- 21. Спасибо за внимание
Основные методы анализа состояния поверхностного слоя: Оптическая микроскопия Конфокальная оптическая микроскопия Растровая электронная микроскопия Сканирующая туннельная микроскопия Атомно-силовая микроскопия Существующие
Слайд 2Основные методы
анализа состояния поверхностного слоя:
Оптическая микроскопия
Конфокальная оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Сканирующая туннельная микроскопия
Атомно-силовая микроскопия
Сканирующая туннельная микроскопия
Атомно-силовая микроскопия
Существующие методы изучения КМ
Слайд 12Атомно-силовая микроскопия
12
Схема регистрации изгибов кантилевера
Устройство пьезосканера: 1) керамическая пьезотрубка; 2) каретка;
3) предметный столик
Трубчатый пьезосканер
Полуконтактный метод сканирования
Слайд 1313
Атомно-силовая микроскопия
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Стеклянное волокно Ortex
Слайд 1414
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Атомно-силовая микроскопия
Стеклянное волокно РТ300-100
Слайд 1616
Атомно-силовая микроскопия
Органическое волокно СВМ-7,5
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Слайд 1717
Атомно-силовая микроскопия
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Органическое волокно Русар-5
