Дифракция рентгеновских лучей презентация

Содержание

Дифракция света наблюдается не только на плоской одномерной решетке, но и на двумерной решетке

Слайд 1Оптика Лекция 5.1
Дифракция рентгеновских лучей


Слайд 2Дифракция света наблюдается не только на плоской одномерной решетке, но и

на двумерной решетке

Слайд 3Кроме того, наблюдается дифракция на пространственных (трехмерных) решетках
В качестве пространственных решеток

можно использовать кристаллические тела, так как они имеют закономерно упорядоченную структуру

Слайд 4Для наблюдения дифракционной картины необходимо, чтобы постоянная решетки была того же

порядка, что и длина волны падающего излучения

Но кристаллы имеют постоянную решетки порядка 10–10 м. В то время как длина волны видимого света ~ 5∙10–7 м


Слайд 5Немецкий физик М. Лауэ предложил использовать кристаллы в качестве естественных дифракционных

решеток для рентгеновского излучения
(~ 10–12 – 10–8 м)




Слайд 6Формула Вульфа-Брэггов
Дифракция рентгеновских лучей является результатом их отражения от системы параллельных

кристаллографических плоскостей (плоскостей, в которых лежат узлы (атомы) кристаллической решетки).


Слайд 7Представим кристаллы в виде совокупности параллельных кристаллографических плоскостей, отстоящих друг от

друга на расстоянии d.

Слайд 8Пучок параллельных монохроматических рентгеновских лучей падает под углом θ и возбуждает

атомы кристаллической решетки, которые становятся источниками когерентных вторичных волн, интерферирующих между собой

Слайд 9Максимумы интенсивности наблюдаются в тех направлениях, в которых все отраженные атомными

плоскостями волны будут находиться в одинаковой фазе:
2dsinθ = ±m (m = 1, 2, 3. …)

Слайд 10При произвольном направлении падения монохроматического рентгеновского излучения на кристалл дифракция не

возникает. Чтобы ее наблюдать, надо, поворачивая кристалл, найти угол скольжения.

Слайд 11Практическое применение
Формула Вульфа-Брэггов справедлива не только для рентгеновского излучения, но и

для дифракции электронов и нейтронов. Она лежит в основе рентгеноструктурного анализа, просвечивающей электронной микроскопии и других методов анализа структуры.

Слайд 12Метод заключается в том, что объект облучают волнами известной длины λ.

Измеряют угол скольжения θ и m. Из чего находят межплоскостное расстояние d, по которому можно определить структуру вещества

Слайд 13Решением обратной задачи т.е. определением длины падающей волны при прочих известных

занимается рентгеновская спектроскопия

Обратная связь

Если не удалось найти и скачать презентацию, Вы можете заказать его на нашем сайте. Мы постараемся найти нужный Вам материал и отправим по электронной почте. Не стесняйтесь обращаться к нам, если у вас возникли вопросы или пожелания:

Email: Нажмите что бы посмотреть 

Что такое ThePresentation.ru?

Это сайт презентаций, докладов, проектов, шаблонов в формате PowerPoint. Мы помогаем школьникам, студентам, учителям, преподавателям хранить и обмениваться учебными материалами с другими пользователями.


Для правообладателей

Яндекс.Метрика