- Главная
- Разное
- Дизайн
- Бизнес и предпринимательство
- Аналитика
- Образование
- Развлечения
- Красота и здоровье
- Финансы
- Государство
- Путешествия
- Спорт
- Недвижимость
- Армия
- Графика
- Культурология
- Еда и кулинария
- Лингвистика
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Маркетинг
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Атомно-силовой микроскоп презентация
Содержание
- 1. Атомно-силовой микроскоп
- 2. Атомно-силовая микроскопия — вид зондовой микроскопии, в
- 3. В 1982 году (момент опубликования в Phys.
- 4. Конструкция АСМ
- 5. Создание иглы, заострённой действительно до атомных
- 6. На расстоянии около одного ангстрема между атомами
- 7. Принцип работы АСМ
- 8. Под силами, действующими между зондом и образцом,
- 9. В зависимости от расстояний от иглы до
- 10. Преимущества: Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно
- 11. Снятое на сканирующем зондовом микроскопе изображение трудно
- 12. ООО «АИСТ-НТ» ООО «Нано Скан Технология» «Микротестмашины»,
Слайд 2 Атомно-силовая микроскопия — вид зондовой микроскопии, в основе которого лежит силовое
взаимодействие атомов (строго говоря обменное взаимодействие атомов зонда и исследуемого образца).
Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM – atomic-force microscope) - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.
Атомно-силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM – atomic-force microscope) - сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного.
В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности.
Атомно-силовой микроскоп
Слайд 3В 1982 году (момент опубликования в Phys. Rev. Lett.) Генрихом Рорером
и Гердом Биннигом был открыт метода сканирующей туннельной микроскопии.
В 1986 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в США, был изобретен первый атомно-силовой микроскоп.
В 1986 году Гердом Биннигом, Кельвином Куэйтом и Кристофером Гербером в США, был изобретен первый атомно-силовой микроскоп.
История изобретения АСМ
Слайд 5
Создание иглы, заострённой действительно до атомных размеров.
Обеспечение механической (в том числе
тепловой и вибрационной) стабильности на уровне лучше 0,1 ангстрема.
Создание детектора, способного надёжно фиксировать столь малые перемещения.
Создание системы развёртки с шагом в доли ангстрема.
Обеспечение плавного сближения иглы с поверхностью.
Создание детектора, способного надёжно фиксировать столь малые перемещения.
Создание системы развёртки с шагом в доли ангстрема.
Обеспечение плавного сближения иглы с поверхностью.
Основные технические сложности при создании микроскопа:
Слайд 6На расстоянии около одного ангстрема между атомами образца и атомом зонда
(кантилевера) возникают силы отталкивания, а на больших расстояниях - силы притяжения.
Идея устройства очень проста - кантилевер, перемещаясь относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие, регистрирует ее рельеф
Идея устройства очень проста - кантилевер, перемещаясь относительно поверхности и реагируя на силовое взаимодействие, регистрирует ее рельеф
Принцип работы АСМ
Слайд 8Под силами, действующими между зондом и образцом, в первую очередь подразумевают
дальнодействующие силы Ван-дер-Ваальса, которые сначала являются силами притяжения, а при дальнейшем сближении переходят в силы отталкивания.
Потенциал
Леннарда-Джонсона
Слайд 9В зависимости от расстояний от иглы до образца возможны следующие режимы
работы атомно-силового микроскопа:
• контактный режим (contact mode);
• бесконтактный режим (non-contact mode);
• полуконтактный режим (tapping mode).
• контактный режим (contact mode);
• бесконтактный режим (non-contact mode);
• полуконтактный режим (tapping mode).
Режимы работы
Слайд 10Преимущества:
Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности;
Изучаемая поверхность не
требует нанесения проводящего металлического покрытия, которое часто приводит к заметной деформации поверхности.
большинство режимов атомно-силовой микроскопии могут быть реализованы на воздухе или даже в жидкости.
большинство режимов атомно-силовой микроскопии могут быть реализованы на воздухе или даже в жидкости.
Преимущества и недостатки АСМ
Недостатки:
Небольшой размер поля сканирования.;
Низкая скорость сканирования поверхности, по сравнению с электронным микроскопом;
Нелинейность, гистерезис и ползучесть (крип) пьезокерамики сканера, являются причинами сильных искажения АСМ-изображений.
Слайд 11Снятое на сканирующем зондовом микроскопе изображение трудно поддается расшифровке из-за присущих
данному методу искажений. Практически всегда результаты первоначального сканирования подвергаются математической обработке.
Обработка полученной информации и восстановление полученных изображений
Слайд 12ООО «АИСТ-НТ»
ООО «Нано Скан Технология»
«Микротестмашины», Беларусь
ЗАО «Нанотехнология МДТ»
ЗАО «Центр перспективных
технологий»
ПРОИЗВОДИТЕЛИ АСМ В РОССИИ И СНГ В АЛФАВИТНОМ ПОРЯДКЕ
